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荧光显微镜E像滤光片Alluxa

名称EE/span> 荧光显微镜E像滤光片Alluxa

型号EE/span> ULTR

品牌EE/span> Alluxa

  • 详绁E息

Alluxa 高性能滤光片以**皁E计工艺和镀膜迁E控制,使Alluxa滤光片具有行业E**皁E迁E,**皁E***深度和波长**性,其中通过SIRRUS™离子束沉积硬镀膜技术,也使得Alluxa滤光片具有使用寿命长,高损伤阈值,以叁E*皁E次稳定性等特点,并已经广泛应用于生物荧光系统、拉曼系统、E子、E达通讯等精寁EE学系统中.

 

Alluxa荧光显微镜E像滤光片

Alluxa二向色镜介绁E45°入封E

图1.用于荧光显微镜应用皁EEE高透封E通二向色刁EE镜、E/div>

 

ULTRA系列薄膜二向色滤光片皁E峭边缘！E9%透封E咁E9.5%反封E都可以E现**小的光强损失咁E*皁E器性能。每个ULTRA系列二向色滤光片E多色滤光片E二向色刁EE镜E光束合E器都可以抵抗激光损伤E并且可以设计成在任何角度工作。宁E都非常适用于荧光显微镜，流式绁EE仪和拉曼光谱等应用、E/p>

ULTRA系列多滤光片釁E梳状设计E多个透封E由多个反封E隔开。在荧光应用中E这E许来自几个不同荧光团皁E封EE同时被引导***检测器E时激发E被引导***样品、E/p>

 

图2. ULTRA系列多色刁E器EE朁E个传输带EE部由反封E隔开、E/div>

 

根据系统波长茁E和要求，ULTRA系列二向色或多色滤光片可定制设计E以满足以下一个或多个具有挑战性皁EEEE/p>

▪ 透迁E可达99%

▪ Up to 99% transmission

▪ 反封E可达99.5%

▪ Up to 99.5% reflection

▪ 波长误差±0.5% Edge wavelength

▪ Tolerances as tight as ± 0.5% of edge wavelength

▪ 波长茁EUV to IR可送E/p>

▪ Edge wavelengths from the UV to the mid IR

▪ 陡度EE% Edge wavelength @10%TEE0%T

 ▪ Edge transitions as steep as 1% of edge wavelength from 10% T to 90% T

▪ 透迁E前差(RMS)E极企E.01λ per inch @ 632.8 nm

▪ TWE as low as 0.01 wave RMS / inch measured at 632.8 nm

 

用于E像和激光应用皁EE坦二向色镁E/strong>

图3.釁EAlluxa低应力工艺制造皁EE0.5mm厚二向色滤光片、E/div>

 

所有ULTRA系列二向色和夁E色滤光片坁E定制为趁E面滤光片E以**限度地减少失真并保持成像和基于激光的荧光系统的**性能。封EE面二色性纳入这些系统封E生渁E皁E像！E*小的焦点位移咁E*量化目栁EE子。当在632.8nm夁E量时E可以定制趁E坦二向色滤光片EE具有优亁E.1波长PV /英寸皁E坦度、E/p>

 

创新皁E膜工艺使产品质量一致性

图4. ULTRA系列滤光片皁E长控制E传输和截***在几种不同皁E层运行中具有高度可重复性、E/div>

 

Alluxa薁EE滤光片和介质封E坁E用们的SIRRUS™离子束沉积硬镀膜技术E这使我们能够在多个不同皁E层运行中可靠地重复生产相同的高性能薁EE带通滤波器E这意味着您皁E有系统性能始终如一、E/p>

夁E号EEnbsp;