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滤光片皁E接可测量皁EE学性能栁E

2019-10-31
　　目前为止EE们讨论亁E光片皁E接可测量皁EE学性能E佁E仍有一些物体的自然属性相当难以测量E这些与薄膜和基底的质量和加工有E。对于任何E学绁EE基底E是会被详绁E述皁E如表面皁E形、抛光程度和E许皁E污、E洁度等，这里我们不应该进一步老E基底。有一个持EMIL-E13830AE特别是在美国被广泛应用E这为匁E基底在冁E光学允E提供亁E套有效的栁E、E/div>
　　镀膜的质量可以通迁E否存在缺陷来衡量，如针孔、污点、溁EEE及未镀膜区域。针孔的重要性主要有两个原因、E/div>
　　**E他们实际上时很小的未镀膜区域E老E刁E镀膜区域，这些区域封E使额外的光透封E止区E从而降低滤光片皁E体性能、E/div>
　　第二，特别是对于可见E区皁E光片E这些不足会影响整体的美观。实际上，与宁E在实际中对性能皁E响相比，宁E使外观看起来更糟。除亁E纯皁E观判断EE们可以根据一定尺寸单位面积上给定的**数值来确定针孔的允许大小，这个**数值是通迁E算滤光片皁E止度降低到一个给定数值时皁E孔数目、E/div>
　　为亁E算这一数值E忁E对封E随时用到皁E光片皁E*小面积进行假定。这主要取决于实际应用E佁E当在这一方面缺少E确皁E息时E合适的数值是5mmÁEmm。很E显E这一面积越小！E*针孔的数目便越小。当然E在任何滤光片中E针孔的实际计算封E及高E皁E动量，在实际中封E光片与参老E品相比辁E对于可见E滤光片进行测量常常是见E上的、E/div>
　　一个含有E箱皁E单固定支架可以很容易的搭建起来E在其上面放置很多滤光片E可以和参老E品比辁E断是否符合要求。对于透E基底上的红外滤光片E这一方法仍然可以使用E佁E对于在不透E皁E底上的滤光片EE更易的是测量其实际皁E止性能。溁EE迹是由蒸发源喷出皁E料碎片造成的、E/div>
　　一般而言E宁E光学性能几乎没有影响，除非数量巨大。一个重要E险是材料碎片可能掉落而E现针孔。有时溁EEE可能会引起节瘤皁E长从而带来相关问题，E老E果**皁EEE屑存在E散封E耗可能会增加。就像控制针孔一样E这种情况是可以控制皁E佁E因为镜面反封EE学性能几乎不会被影响到E除非溁EE迹皁E量非常大EE定E许值皁E式常常是主观的。如果溁EE生亁E孔，这些针孔封E独夁E、E/div>
　　通常持EE会陈述E无裸眼可见的溁EE迹E佁E这种描述非常模糊，特别是当检查员没有E学经验时。当用户皁E查员用镜片来辁E裸眼进行观测时E用户咁E**之间皁EE歧会产生。当宁EE够像测试针孔一样釁E同样**皁E法时EE*皁E途是封E试与双方啁E的参老E品相关联、E/div>

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